Новости
27.04.2022
Послание директоров BIPM и BIML ко Всемирному Дню метрологии - 20 мая 2022...
25.04.2022
Пресс-релиз Всемирного Дня метрологии - 20 мая 2022...
21.04.2022
Пресс-релиз MetrolExpo-2023...
Новости
06.02.2018
Справочно. Джоэль П. Дансмор, PhD, более 30 лет работает инженером-разработчиком в компании Keysight Technologies, которая является мировым лидером в области разработки и производства измерительных решений и преемницей отделов электронных измерений компаний Hewlett-Packard и Agilent Technologies. Автор участвовал в работе над широчайшим кругом измерительных задач в СВЧ-диапазоне – от компонентов сотового телефона до спутниковых мультиплексоров – и является обладателем 21 патента. Его книга «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», впервые вышедшая в 2012 году, стала настоящим бестселлером среди метрологов и инженеров-разработчиков СВЧ-устройств во всем мире. Джоэль также написал большое количество статей по теории и практике измерений. Кроме того, он ведет учебные курсы по основам анализа цепей и ВЧ-технологиям в Университете Калифорнии, Беркли, а также является автором разнообразных краткосрочных курсов.
Презентация книги «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей»
В рамках Всероссийского съезда метрологов и приборостроителей в период с 15 по 17 мая 2018 года на ВДНХ в павильоне №75 запланирована презентация книги «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей». Автор - Джоэль П. Дансмор.Справочно. Джоэль П. Дансмор, PhD, более 30 лет работает инженером-разработчиком в компании Keysight Technologies, которая является мировым лидером в области разработки и производства измерительных решений и преемницей отделов электронных измерений компаний Hewlett-Packard и Agilent Technologies. Автор участвовал в работе над широчайшим кругом измерительных задач в СВЧ-диапазоне – от компонентов сотового телефона до спутниковых мультиплексоров – и является обладателем 21 патента. Его книга «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», впервые вышедшая в 2012 году, стала настоящим бестселлером среди метрологов и инженеров-разработчиков СВЧ-устройств во всем мире. Джоэль также написал большое количество статей по теории и практике измерений. Кроме того, он ведет учебные курсы по основам анализа цепей и ВЧ-технологиям в Университете Калифорнии, Беркли, а также является автором разнообразных краткосрочных курсов.
